|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 977 van 1620 gevonden artikelen
| Titel: |
Maximal length test pattern generation for the cryptography application |
| Auteur: |
Tulasi Radhika, Patnala Jayanthi, D. Shylu, D.S. Kavitha, K. Pratyusha Chowdary, Ch |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. P7 pagina's 2701-2705 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 977 van 1620 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |