|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 155 van 202 gevonden artikelen
| Titel: |
Robustness evaluation of electrical characteristics of sub-22 nm FinFETs affected by physical variability |
| Auteur: |
Kalasapati, Bindu Madhavi Tripathi, Suman Lata |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. P5 pagina's 2245-2252 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 155 van 202 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |