|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of thickness dependence on omnidirectional anti-reflection SiO2 nanorod array fabricated by oblique angle deposition |
| Auteur: |
Boonpichayapha, T. Plirdpring, T. Samransuksamer, B. Lertvanithpol, T. Chaikeeree, T. Chananonawathorn, C. Pattantsetakul, V. Horprathum, M. Limwichean, S. Nuntawong, N. Eiamchai, P. |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 4 (2017) nr. 5P2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |