|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Raman and spectroscopic ellipsometry studies of a-Si:H thin films on low-cost photo paper substrate |
| Auteur: |
Madaka, Ramakrishna Kanneboina, Venkanna Agarwal, Pratima |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 4 (2017) nr. 14 pagina's 12666-12670 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |