|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigations of Interface Trap Densities (Dit) and Interface Charges (Qit) for Steep Retrograded Al2O3 and HfO2 based Nano Regime GAA FinFETs |
| Auteur: |
Ranjan Thakur, Rajiv Singh, Pragati |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. P3 pagina's 2011-2018 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |