|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Physics-based model for resistance transition of sputter-deposited silicon oxide films |
| Auteur: |
Omura, Yasuhisa |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 20 () nr. P3 pagina's 273-282 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |