|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 131 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Channel Width on Breakdown Analysis of Normally-Off 4H-SiC Trenched and Implanted VJFET |
| Auteur: |
Munir, T. Abbas, F. Naseem, S. Raza, W. |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 2 (2015) nr. 10PB pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 131 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |