|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Layer profile monitoring for fused deposition modelling process using boarder signature method |
| Auteur: |
Doodi, Ramakrishna Gunji, Balamurali Ramakrishnan, R. Sathish, P.G. |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 115 () nr. C pagina's 60-66 |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |