|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 300 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy data of novel high-k hydrocarbon films synthesized on Si wafers for gate dielectric applications |
| Auteur: |
Kwon, Jihwan Kim, Dong-Ok Lee, Sangyeob Kim, Eui-Tae |
| Verschenen in: |
Data in brief |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 300 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |