|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 202 van 284 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution atomic force and Kelvin probe force microscopy image data of InAs(001) surface using frequency modulation method |
| Auteur: |
Park, Young Min Park, Joon Sik Chung, Choong-Heui Lee, Sangyeob |
| Verschenen in: |
Data in brief |
| Paginering: | Jaargang 29 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 202 van 284 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |