|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 180 van 198 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface integrity analysis and inspection for nanochannel sidewalls using the self-affine fractal model-based statistical quality control for the atomic force microscopy (AFM)-based nanomachining process |
| Auteur: |
Wang, Xinchen Alshoul, Mohammad Deng, Jia Wang, Zimo |
| Verschenen in: |
Manufacturing letters |
| Paginering: | Jaargang 41 () nr. S pagina's 536-545 |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 180 van 198 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |