|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 85 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
High-temperature time-dependent dielectric breakdown of 4H-SiC MOS capacitors |
| Auteur: |
Hou, Xinlan Luo, Runding Liu, Qibin Chi, Yanqing Zhang, Jie Ma, Hongping Zhang, Qingchun Fan, Jiajie |
| Verschenen in: |
Case studies in thermal engineering |
| Paginering: | Jaargang 63 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 85 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |