|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 154 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-resolved characterization of cryogenic hard turned surface layer of AISI 52100 by X-ray diffraction and scanning electron microscopy investigations |
| Auteur: |
Ankener, Werner Smaga, Marek Uebel, Julian Seewig, Jörg Grossmann, Felix Basten, Stephan Kirsch, Benjamin Aurich, Jan C. Beck, Tilmann |
| Verschenen in: |
Procedia CIRP |
| Paginering: | Jaargang 108 () nr. C pagina's 66-71 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 154 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |