|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 73 van 595 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization, modeling and physical mechanisms of different surface treatment methods at room temperature on the oxide and interfacial quality of the SiO2 film using the spectroscopic scanning capacitance microscopy |
| Auteur: |
Wong, Kin Mun |
| Verschenen in: |
Results in physics |
| Paginering: | Jaargang 7 () nr. C pagina's 1308-1318 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 73 van 595 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |