|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 149 gevonden artikelen
| Titel: |
Adhesion–delamination phenomena at the interfaces of the dielectric layer |
| Auteur: |
Pan, C.T. Wu, C.N. Mao, S.W. Wang, S.Y. Ju, S.P. Wu, J.D. Yen, C.K. Chen, W.F. |
| Verschenen in: |
Results in physics |
| Paginering: | Jaargang 18 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 149 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |