|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A heuristic fault based optimization approach to reduce test vectors count in VLSI testing |
| Auteur: |
Khera, Vinod Kumar Sharma, R.K. Gupta, A.K. |
| Verschenen in: |
Journal of King Saud University. Computer and Information Sciences |
| Paginering: | Jaargang 31 (2019) nr. 2 pagina's 229-234 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| volgende >> |