|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Sensitivity analysis of fractional order SVEIR Lumpy Skin Disease model |
| Auteur: |
Rathee, Savita Narwal, Yogeeta Bansal, Komal Emadifar, Homan |
| Verschenen in: |
Alexandria engineering journal |
| Paginering: | Jaargang 119 () nr. C pagina's 609-622 |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |