|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 65 van 101 gevonden artikelen
| Titel: |
New digital testing for parametric fault detection in analog circuits using classified frequency-bands and efficient test-point selection |
| Auteur: |
Abo-elftooh, Bassam A. El-Mahlawy, Mohamed H. Ragai, Hani F. |
| Verschenen in: |
Ain shams engineering journal |
| Paginering: | Jaargang 12 () nr. 2 pagina's 1701-1721 |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
THE AUTHORS |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 65 van 101 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |