Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 2 van 11 gevonden artikelen
 
 
  An optimal defect recognition security-based terahertz low resolution image system using deep learning network
 
 
Titel: An optimal defect recognition security-based terahertz low resolution image system using deep learning network
Auteur: Danso, Samuel Akwasi
Liping, Shang
Hu, Deng
Afoakwa, Samuel
Badzongoly, Eugene Louis
Odoom, Justice
Muhammad, Owais
Mushtaq, Muhammad Umer
Qayoom, Abdul
Zhou, Wenqing
Verschenen in: Egyptian informatics journal
Paginering: Jaargang 24 () nr. 3 pagina's p.
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 2 van 11 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland