|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of III-V FinFETs at 20nm Node: A Process Variation Analysis |
| Auteur: |
Pradhan, K.P. Singh, D. Mohapatra, S.K. Sahu, P.K. |
| Verschenen in: |
Procedia computer science |
| Paginering: | Jaargang 57 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |