|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Interface Charge Using Capacitance-Voltage Method for Ultra Thin HfO2 Gate Dielectric Based MOS Devices |
| Auteur: |
Maity, N.P. Thakur, R.R. Maity, Reshmi Thapa, R.K. Baishya, S. |
| Verschenen in: |
Procedia computer science |
| Paginering: | Jaargang 57 (2015) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |