|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 82 van 238 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Classification of Electronic Board Using Dense SIFT and CNN |
| Auteur: |
Iwahori, Yuji Takada, Yohei Shiina, Tokiko Adachi, Yoshinori Bhuyan, M.K. Kijsirikul, Boonserm |
| Verschenen in: |
Procedia computer science |
| Paginering: | Jaargang 126 (2018) nr. C pagina's 1673-1682 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 82 van 238 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |