|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 116 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate characterisation of silicon nitride films on rough silicon surfaces by ellipsometry |
| Auteur: |
Siah, S.C. Hoex, B. Aberle, A.G. |
| Verschenen in: |
Energy procedia |
| Paginering: | Jaargang 8 (2011) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 116 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |