Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 50 gevonden artikelen
 
 
  Dependence on Base Width and Doping Concentration of Current Degradation in Gate-controlled Lateral PNP Bipolar Transistors Exposed to Reactor Neutrons and Gamma Rays
 
 
Titel: Dependence on Base Width and Doping Concentration of Current Degradation in Gate-controlled Lateral PNP Bipolar Transistors Exposed to Reactor Neutrons and Gamma Rays
Auteur: Wang, Chenhui
Chen, Wei
Jin, Xiaoming
Liu, Yan
Yang, Shanchao
Verschenen in: Energy procedia
Paginering: Jaargang 127 (2017) nr. C pagina's 10 p.
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 50 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland