|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 73 gevonden artikelen
| Titel: |
The machined surface defect detection of improved superpixel segmentation and two-level region aggregation based on machine vision |
| Auteur: |
Chen, Wei Zou, Bin Yang, Jinzhao Huang, Chuanzhen Yao, Peng Liu, Jikai |
| Verschenen in: |
Journal of manufacturing processes |
| Paginering: | Jaargang 80 () nr. C pagina's 287-301 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 73 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |