Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 76 gevonden artikelen
 
 
  A new damage evolution criterion for the coupled Eulerian-Lagrangian approach: Application to three-dimensional numerical simulation of segmented chip formation mechanisms in orthogonal cutting
 
 
Titel: A new damage evolution criterion for the coupled Eulerian-Lagrangian approach: Application to three-dimensional numerical simulation of segmented chip formation mechanisms in orthogonal cutting
Auteur: Ambrosio, D.
Tongne, A.
Wagner, V.
Dessein, G.
Cahuc, O.
Verschenen in: Journal of manufacturing processes
Paginering: Jaargang 73 () nr. C pagina's 149-163
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: The Society of Manufacturing Engineers
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 76 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland