|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
AFM-Based nanofabrication and quality inspection of three-dimensional nanotemplates for soft lithography |
| Auteur: |
Deng, Jia Jiang, Lan Si, Bing Zhou, Huimin Dong, Jingyan Cohen, Pual |
| Verschenen in: |
Journal of manufacturing processes |
| Paginering: | Jaargang 66 () nr. C pagina's 565-573 |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |