|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Ranked Feature-Based Laser Material Processing Monitoring and Defect Diagnosis Using k-NN and SVM |
| Auteur: |
Lee, Seung Hwan Mazumder, Jyoti Park, Jaewoong Kim, Seokgoo |
| Verschenen in: |
Journal of manufacturing processes |
| Paginering: | Jaargang 55 () nr. C pagina's 307-316 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Society of Manufacturing Engineers |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |