|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 94 van 94 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray tomography of polarization effects on deep laser-machined microgrooves |
| Auteur: |
Xiao, Ce Buffiere, Jean-Yves Weck, Arnaud |
| Verschenen in: |
Journal of manufacturing processes |
| Paginering: | Jaargang 133 () nr. C pagina's 479-490 |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Society of Manufacturing Engineers |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 94 van 94 gevonden artikelen
| << vorige |