|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Research on rapid detection of cross-scale defects in surface based on deep learning |
| Auteur: |
Chen, Wei Zou, Bin Yang, Jinzhao Sun, Hewu Lei, Ting Wang, Xinfeng Huang, Chuanzhen Yao, Peng Li, Lei |
| Verschenen in: |
Journal of manufacturing processes |
| Paginering: | Jaargang 109 () nr. C pagina's 345-358 |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |