|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Back-gate bias and supply voltage dependency on the single-event upset susceptibility of 6 T CSOI-SRAM |
| Auteur: |
Yao, Li-Wen Yang, Jin-Hu Liu, Yu-Zhu Li, Bo Jiao, Yang Zhao, Shi-Wei Chen, Qi-Yu Li, Xin-Yu Wang, Tian-Qi Liu, Fan-Yu Gao, Jian-Tou Liu, Jian-Li Li, Xing-Ji Liu, Jie Zhao, Pei-Xiong |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 36 () nr. 9 pagina's xx |
| Jaar: |
2025-06-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Nature Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |