|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Total ionizing dose effect modeling method for CMOS digital-integrated circuit |
| Auteur: |
Liang, Bo Liu, Jin-Hui Zhang, Xiao-Peng Liu, Gang Tan, Wen-Dan Zhang, Xin-Dan |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 35 () nr. 2 pagina's xx |
| Jaar: |
2024-02-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Nature Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |