|
Heavy ion-induced MCUs in 28 nm SRAM-based FPGAs: upset proportions, classifications, and pattern shapes |
|
|
|
Titel: |
Heavy ion-induced MCUs in 28 nm SRAM-based FPGAs: upset proportions, classifications, and pattern shapes |
Auteur: |
Gao, Shuai Li, Xin-Yu Zhao, Shi-Wei He, Ze Ye, Bing Cai, Li Sun, You-Mei Xiao, Guo-Qing Cai, Chang Liu, Jie |
Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
Paginering: |
Jaargang 33 () nr. 12 pagina's xx |
Jaar: |
2022-12-09 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer Nature Singapore, Singapore |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|