|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of single-event transient sensitivity in fully depleted silicon-on-insulator MOSFETs |
| Auteur: |
Xu, Jing-Yan Chen, Shu-Ming Song, Rui-Qiang Wu, Zhen-Yu Chen, Jian-Jun |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 29 (2018) nr. 4 pagina's 1-6 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| volgende >> |