|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Heavy ion-induced single event upset sensitivity evaluation of 3D integrated static random access memory |
| Auteur: |
Cao, Xue-Bing Xiao, Li-Yi Huo, Ming-Xue Wang, Tian-Qi Liu, Shan-Shan Qi, Chun-Hua Li, An-Long Wang, Jin-Xiang |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 29 (2018) nr. 3 pagina's 1-11 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |