|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 85 van 170 gevonden artikelen
| Titel: |
Heavy-ion and pulsed-laser single event effects in 130-nm CMOS-based thin/thick gate oxide anti-fuse PROMs |
| Auteur: |
Cai, Chang Liu, Tian-Qi Li, Xiao-Yuan Liu, Jie Zhang, Zhan-Gang Geng, Chao Zhao, Pei-Xiong Li, Dong-Qing Ye, Bing Ji, Qing-Gang Mo, Li-Hua |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 5 pagina's 1-11 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 85 van 170 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |