|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 169 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of total dose irradiation on the threshold voltage of H-gate SOI NMOS devices |
| Auteur: |
Wang, Qian-Qiong Liu, Hong-Xia Chen, Shu-Peng Wang, Shu-Long Fei, Chen-Xi Zhao, Dong-Dong |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 27 (2016) nr. 5 pagina's 1-7 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 169 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |