|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 74 van 121 gevonden artikelen
| Titel: |
Nondestructive microcharacterization of thin films SiO 2 , Cr, Si, Si 3 N 4 , AlN and SiC deposited on quartz and molybdenum |
| Auteur: |
Beldi, I. Hadjoub, Z. Metiri, W. Doghmane, A. |
| Verschenen in: |
Physics procedia |
| Paginering: | Jaargang 2 (2009) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 74 van 121 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |