|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 82 gevonden artikelen
| Titel: |
A Three-Dimensional Topography Measurement for Micro-nano Film Buckling Based on the Focusing Evaluation Function |
| Auteur: |
Jia, H.K. Wang, S.B. Li, L.A. Xue, X.L. Guo, Z.M. |
| Verschenen in: |
Physics procedia |
| Paginering: | Jaargang 19 (2011) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 82 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |