|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Novel technique for measurement of coating layer thickness of fine and porous particles using focused ion beam |
| Auteur: |
Goslinska, M. Selmer, I. Kleemann, C. Kulozik, U. Smirnova, I. Heinrich, S. |
| Verschenen in: |
Particuology |
| Paginering: | Jaargang 42 () nr. C pagina's 190-198 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Chinese Society of Particuology and Institute of Process Engineering, Chinese Academy of Sciences |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |