|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling of failure and lifetime of thin-film metal conductors in integrated circuits |
| Auteur: |
Valiev, K.A. Goldstein, R.V. Zhitnikov, Yu.V. Makhviladze, T.M. Sarychev, M.E. |
| Verschenen in: |
Physical mesomechanics |
| Paginering: | Jaargang 11 (2008) nr. 3-4 pagina's 29 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |