|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Spatial-carrier fringe-pattern analysis and its applications to precision interferometry and profilometry: An overview |
| Auteur: |
Takeda, Mitsuo |
| Verschenen in: |
Industrial metrology |
| Paginering: | Jaargang 1 (1990) nr. 2 pagina's 21 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Publishers B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |