|
Development and validation of YARN: A novel SE-400 MPS kit for East Asian paternal lineage analysis |
|
|
|
Titel: |
Development and validation of YARN: A novel SE-400 MPS kit for East Asian paternal lineage analysis |
Auteur: |
Fan, Haoliang Xu, Yiran Zhao, Yutao Feng, Kai Hong, Liuxi Zhao, Qiancheng Lu, Xiaoyu Shi, Meisen Li, Haiyan Wang, Lingxiang Wen, Shaoqing |
Verschenen in: |
Forensic science international: Genetics |
Paginering: |
Jaargang 71 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2024 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|