|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Metallographic cross sections and scanning electron microscopy as analytical tools in the failure analysis of rectifiers |
| Auteur: |
Veidis, Mikelis V. |
| Verschenen in: |
Metallography |
| Paginering: | Jaargang 22 (1989) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1989 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |