|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness dependence of the reflection coefficient from thin semiconductor films and measurements of the conductivity |
| Auteur: |
Divon, Baruch Barnes, Frank S. |
| Verschenen in: |
Solar cells |
| Paginering: | Jaargang 6 (1982) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1982 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |