|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability prediction for microelectronic systems |
| Auteur: |
O'Connor, Patrick D.T. Head, Michael G. Joy, Malcolm |
| Verschenen in: |
Reliability engineering |
| Paginering: | Jaargang 10 (1985) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |