|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of GaN/ZrO2 interfacial layer defects on 8-nm GaN-SOI-FinFET for reliable RFIC design |
| Auteur: |
Gupta, Neha Kumar, Ajay |
| Verschenen in: |
A.E.Ü. |
| Paginering: | Jaargang 144 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |