|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
A new fault-tolerant single-bit comparator in QCA technology using a novel X-NOR gate |
| Auteur: |
Yin, Yuexi Liu, Jiaxuan She, Chen |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 269 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |