|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of fast and slow traps in atomic layer deposited AlN on 4H-SiC |
| Auteur: |
Kim, Hogyoung Yun, Hee Ju Choi, Byung Joon |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 184 () nr. C pagina's 527-532 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 72 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |