|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 170 gevonden artikelen
| Titel: |
Fractal and statistical characterization of Ti thin films deposited by RF-magnetron sputtering: The effects of deposition time |
| Auteur: |
Astinchap, Bandar |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 178 (2019) nr. C pagina's 231-242 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 170 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |